Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Remote Sensing of Environment Année : 2003

Dates et versions

hal-02308908 , version 1 (08-10-2019)

Identifiants

Citer

S. Ollier, D. Chessel, Pierre Couteron, R. Pelissier, J. Thioulouse. Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles. Remote Sensing of Environment, 2003, 85 (4), pp.453-462. ⟨10.1016/S0034-4257(03)00038-5⟩. ⟨hal-02308908⟩
70 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More