Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles

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Contributeur : Raphaël Pélissier <>
Soumis le : mardi 8 octobre 2019 - 18:14:08
Dernière modification le : jeudi 21 novembre 2019 - 01:54:07

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Citation

S. Ollier, D. Chessel, Pierre Couteron, R. Pelissier, J. Thioulouse. Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles. Remote Sensing of Environment, Elsevier, 2003, 85 (4), pp.453-462. ⟨10.1016/S0034-4257(03)00038-5⟩. ⟨hal-02308908⟩

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