Radiation damage of mesoporous silica thin films monitored by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy - Université de Montpellier
Article Dans Une Revue Journal of Nuclear Materials Année : 2012

Radiation damage of mesoporous silica thin films monitored by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy

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Sandrine Dourdain  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.umontpellier.fr/hal-01999335

Soumis le : mercredi 30 janvier 2019-09:41:42

Dernière modification le : jeudi 28 novembre 2024-03:39:16

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Dates et versions

hal-01999335 , version 1 (30-01-2019)

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Citer

Sandrine Dourdain, Xavier Deschanels, G. Toquer, C. Grygiel, I. Monnet, et al.. Radiation damage of mesoporous silica thin films monitored by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy. Journal of Nuclear Materials, 2012, 427 (1-3), pp.411-414. ⟨10.1016/j.jnucmat.2012.03.046⟩. ⟨hal-01999335⟩

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