Article Dans Une Revue Biosensors and Bioelectronics Année : 2004

Measurement of film thickness up to several hundreds of nanometers using optical waveguide lightmode spectroscopy

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Soumis le : lundi 26 mars 2018-13:11:24

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hal-01743292 , version 1 (26-03-2018)

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Citer

Frédéric Cuisinier, Catherine Picart, Csilla Gergely, Youri Arntz, Jean-Claude Voegel, et al.. Measurement of film thickness up to several hundreds of nanometers using optical waveguide lightmode spectroscopy. Biosensors and Bioelectronics, 2004, 20 (3), pp.553 - 561. ⟨10.1016/j.bios.2004.03.005⟩. ⟨hal-01743292⟩

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