Article Dans Une Revue
Journal de Physique IV Proceedings
Année : 1999
Philippe FALQUE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.umontpellier.fr/hal-01737524
Soumis le : lundi 19 mars 2018-15:17:24
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
A. van Der Lee, J. Durand, D. Cot, L. Vazquez. Study of the growth mechanism of CVD silicon films on silica by X-ray reflectivity, atomic force microscopy and scanning electron microscopy. Journal de Physique IV Proceedings, 1999, 09 (PR8), pp.Pr8-157 - Pr8-164. ⟨10.1051/jp4:1999819⟩. ⟨hal-01737524⟩
Collections
30
Consultations
0
Téléchargements