Characterization of thin Co/ZrO2 catalytic films by XPS, SEM and SAM - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Surface and Interface Analysis Année : 2002

Characterization of thin Co/ZrO2 catalytic films by XPS, SEM and SAM

P. Stefanov
  • Fonction : Auteur
Institute of General and Inorganic Chemistry
G. Atanasova
  • Fonction : Auteur
K. Robinson
  • Fonction : Auteur
A. Julbe
Institut Européen des membranes
C. Guizard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 913447
Institut Européen des membranes
P. O'Hara
  • Fonction : Auteur
Ts. Marinova
  • Fonction : Auteur

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hal-01726400 , version 1 (08-03-2018)

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Citer

P. Stefanov, G. Atanasova, K. Robinson, A. Julbe, C. Guizard, et al.. Characterization of thin Co/ZrO2 catalytic films by XPS, SEM and SAM. Surface and Interface Analysis, 2002, 34 (1), pp.84 - 87. ⟨10.1002/sia.1258⟩. ⟨hal-01726400⟩

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