Article Dans Une Revue
Surface and Interface Analysis
Année : 2002
Philippe FALQUE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.umontpellier.fr/hal-01726400
Soumis le : jeudi 8 mars 2018-11:46:11
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
P. Stefanov, G. Atanasova, K. Robinson, A. Julbe, C. Guizard, et al.. Characterization of thin Co/ZrO2 catalytic films by XPS, SEM and SAM. Surface and Interface Analysis, 2002, 34 (1), pp.84 - 87. ⟨10.1002/sia.1258⟩. ⟨hal-01726400⟩
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