Diffusion layer thickness in a membrane system as determined from voltammetric and chronopotentiometric data - Université de Montpellier
Article Dans Une Revue Elektrokhimiya / Russian Journal of Electrochemistry Année : 2010

Diffusion layer thickness in a membrane system as determined from voltammetric and chronopotentiometric data

A. Kozmai
  • Fonction : Auteur
V. Nikonenko
  • Fonction : Auteur
N. Pismenskaya
  • Fonction : Auteur
O. Pryakhina
  • Fonction : Auteur
P. Sistat

Domaines

Chimie

Dates et versions

hal-01696592 , version 1 (30-01-2018)

Identifiants

Citer

A. Kozmai, V. Nikonenko, N. Pismenskaya, O. Pryakhina, P. Sistat, et al.. Diffusion layer thickness in a membrane system as determined from voltammetric and chronopotentiometric data. Elektrokhimiya / Russian Journal of Electrochemistry, 2010, 46 (12), pp.1383 - 1389. ⟨10.1134/S1023193510120074⟩. ⟨hal-01696592⟩
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