The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices - Université de Montpellier

Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2023

The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

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Vincent Girones

Fonction : Auteur
PersonId : 1261193
IdHAL : vincent-girones
ORCID : 0000-0003-3954-4665

Radiations et composants

Institut d’Electronique et des Systèmes

Jérôme Boch

Fonction : Auteur
PersonId : 18222
IdHAL : jerome-boch
ORCID : 0000-0002-5660-7501
IdRef : 076170632

Radiations et composants

Institut d’Electronique et des Systèmes

Alain Carapelle

Fonction : Auteur

Centre Spatial de Liège

Arnaud Chapon

Fonction : Auteur

Tadec Maraine

Fonction : Auteur

Radiations et composants

Institut d’Electronique et des Systèmes

Timothee Labau

Fonction : Auteur
PersonId : 1272989
IdHAL : timothee-labau
ORCID : 0009-0007-5409-1584

Frédéric Saigné

Fonction : Auteur

Radiations et composants

Institut d’Electronique et des Systèmes

Rubén García Alía

Fonction : Auteur
PersonId : 802638
ORCID : 0000-0001-8030-1804

European Organization for Nuclear Research

Domaines

Physique [physics]

jerome boch : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.umontpellier.fr/hal-04124251

Soumis le : vendredi 9 juin 2023-17:26:28

Dernière modification le : lundi 8 juillet 2024-13:00:04

Dates et versions

hal-04124251 , version 1 (09-06-2023)

Identifiants

HAL Id : hal-04124251 , version 1
DOI : 10.1109/TNS.2023.3279626

Citer

Vincent Girones, Jérôme Boch, Alain Carapelle, Arnaud Chapon, Tadec Maraine, et al.. The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2023.3279626⟩. ⟨hal-04124251⟩

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