Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2023
jerome boch : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.umontpellier.fr/hal-04124251
Soumis le : vendredi 9 juin 2023-17:26:28
Dernière modification le : jeudi 7 novembre 2024-16:14:04
Citer
Vincent Girones, Jérôme Boch, Alain Carapelle, Arnaud Chapon, Tadec Maraine, et al.. The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2023.3279626⟩. ⟨hal-04124251⟩
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