The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2023

Dates et versions

hal-04124251 , version 1 (09-06-2023)

Identifiants

Citer

Vincent Girones, Jérôme Boch, Alain Carapelle, Arnaud Chapon, Tadec Maraine, et al.. The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2023.3279626⟩. ⟨hal-04124251⟩
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