Determination of porosity of mesoporous silica thin films by quantitative X-ray reflectivity analysis and GISAXS - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2006

Determination of porosity of mesoporous silica thin films by quantitative X-ray reflectivity analysis and GISAXS

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01999344 , version 1 (30-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01999344 , version 1

Citer

S. Dourdain, A. Mehdi, Jean-François Bardeau, Alain Gibaud. Determination of porosity of mesoporous silica thin films by quantitative X-ray reflectivity analysis and GISAXS. Thin Solid Films, 2006, 495 (1-2), pp.205-209. ⟨hal-01999344⟩
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