Mass density determination of thin organosilicon films by X-ray reflectometry - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2001

Mass density determination of thin organosilicon films by X-ray reflectometry

Domaines

Chimie

Dates et versions

hal-01737533 , version 1 (19-03-2018)

Identifiants

Citer

A. van Der Lee, S. Roualdes, R. Berjoan, J. Durand. Mass density determination of thin organosilicon films by X-ray reflectometry. Applied Surface Science, 2001, 173 (1-2), pp.115 - 121. ⟨10.1016/S0169-4332(00)00890-4⟩. ⟨hal-01737533⟩
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