High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Advances in Materials Science and Engineering Année : 2012

High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM

James Whitby
  • Fonction : Auteur
Fredrik Östlund
  • Fonction : Auteur
Peter Horvath
  • Fonction : Auteur
Mihai Gabureac
  • Fonction : Auteur
Jessica Riesterer
  • Fonction : Auteur
Ivo Utke
  • Fonction : Auteur
Markus Hohl
  • Fonction : Auteur
Libor Sedláček
  • Fonction : Auteur
Jaroslav Jiruše
  • Fonction : Auteur
Vinzenz Friedli
  • Fonction : Auteur
Mikhael Bechelany

Domaines

Chimie
Fichier principal
Vignette du fichier
180437.pdf (4.07 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte

Dates et versions

hal-01692106 , version 1 (25-05-2021)

Identifiants

Citer

James Whitby, Fredrik Östlund, Peter Horvath, Mihai Gabureac, Jessica Riesterer, et al.. High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM. Advances in Materials Science and Engineering, 2012, 2012, pp.1 - 13. ⟨10.1155/2012/180437⟩. ⟨hal-01692106⟩
181 Consultations
42 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More