High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM - Université de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Advances in Materials Science and Engineering Année : 2012

High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM

James Whitby
  • Fonction : Auteur
Fredrik Östlund
  • Fonction : Auteur
Peter Horvath
  • Fonction : Auteur
Mihai Gabureac
  • Fonction : Auteur
Jessica Riesterer
  • Fonction : Auteur
Ivo Utke
  • Fonction : Auteur
Markus Hohl
  • Fonction : Auteur
Libor Sedláček
  • Fonction : Auteur
Jaroslav Jiruše
  • Fonction : Auteur
Vinzenz Friedli
  • Fonction : Auteur
Mikhael Bechelany
Institut Européen des membranes
Johann Michler
Laboratory for Mechanics of Materials and Nanostructures [Thun]

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Citer

James Whitby, Fredrik Östlund, Peter Horvath, Mihai Gabureac, Jessica Riesterer, et al.. High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM. Advances in Materials Science and Engineering, 2012, 2012, pp.1 - 13. ⟨10.1155/2012/180437⟩. ⟨hal-01692106⟩

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