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 Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Electrical engineering Electron beams Dielectric films Epoxy resin Interfacial charge Electrical insulation Cable PEA Polypropylene Electron-beam irradiation Electrical ageing Ageing Nanostructured dielectrics Electronic irradiation Optimization Space charge Aluminum oxide Charge transport Rotating machines Silver Polymeric insulation Charge measurement Mechanical properties Thermal aging Polyethylene Modeling Polarization HVDC cable Power cables Charge transport model Proteins FLIMM LIMM Charge d'espace Partial discharges Acoustic wave propagation Electric field distribution Cross-linked polyethylene Dielectric material Polymer Transport Electrostatics Bipolar charge transport model Breakdown Charge trapping Polymers KPFM DC conductivity Electron beam Electrical conductivity Plasma processes Cumyl alcohol Electrical properties Polyimide Radiation effects Electrodes Dielectric charging Electroluminescence SiO2 Cross-linking by-products Silver nanoparticles Pulsed electro acoustic method Insulating polymers AgNPs Electric field Dielectric materials LDPE Plasma process Electromechanical stress EFM Accumulation characteristics HVDC Insulation Permittivity Cathodoluminescence Ac electric field Fluid model Conductivity Silicon compounds C-AFM Field distribution Dielectrics Charge injection Current measurement Electron emission FTIR Atomic force microscopy AFM Conduction current Polarity reversal Dielectric properties Thin films Luminescence Electric potential Dielectric E-Beam DC stress Dielectric strength XLPE PTFE