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Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
Dielectric materials
Polarity reversal
Polymeric insulation
HVDC cable
Plasma process
Bipolar charge transport model
Charge transport modeling
Kelvin Probe Force Microscopy
Nanocomposite
Fluid model
Pulsed electro acoustic method
Conduction current
Interfaces
Charge transport
Cross-linked polyethylene
LIMM
Dielectric charging
Charge d'espace
Charge injection
Accumulation characteristics
DC conductivity
Silicon compounds
Dielectric
Transport
Electron-beam irradiation
Luminescence
Epoxy
Insulation
Plasma deposition
Breakdown
Cable
Radiation effects
Dielectric films
Polarization
LDPE
Power cables
Silver nanoparticles
Atomic force microscopy
Proteins
Crosslinked polyethylene
Interfacial charge
Cathodoluminescence
PEA
Field distribution
Cross-linking by-products
FLIMM
Insulations
Space charge
Epoxy resin
Polypropylene
Dielectric material
Partial discharges
Electrical ageing
Electrostatics
Electric field distribution
Charges injection
Ac electric field
Silver
Charge measurement
Acoustic wave propagation
Aluminum oxide
AgNPs
Dielectrics
KPFM
C-AFM
XLPE
Electrodes
Dielectric properties
SiO2
PTFE
Polymer
Gamma irradiation
Polyethylene
Insulating polymers
Space charges
Permittivity
Rotating machines
Ageing
Plasma processes
BSA
Polyimide
Nanostructured dielectrics
HVDC
Polymers
AFM
Conductivity
Electroluminescence
Cumyl alcohol
Current measurement
Modeling
Charge transport model
EFM
Electric field
FTIR
Electrical insulation
Thermal aging
Mechanical properties
Charge trapping
Optimization
Thin films