Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Dielectric materials Polarity reversal Polymeric insulation HVDC cable Plasma process Bipolar charge transport model Charge transport modeling Kelvin Probe Force Microscopy Nanocomposite Fluid model Pulsed electro acoustic method Conduction current Interfaces Charge transport Cross-linked polyethylene LIMM Dielectric charging Charge d'espace Charge injection Accumulation characteristics DC conductivity Silicon compounds Dielectric Transport Electron-beam irradiation Luminescence Epoxy Insulation Plasma deposition Breakdown Cable Radiation effects Dielectric films Polarization LDPE Power cables Silver nanoparticles Atomic force microscopy Proteins Crosslinked polyethylene Interfacial charge Cathodoluminescence PEA Field distribution Cross-linking by-products FLIMM Insulations Space charge Epoxy resin Polypropylene Dielectric material Partial discharges Electrical ageing Electrostatics Electric field distribution Charges injection Ac electric field Silver Charge measurement Acoustic wave propagation Aluminum oxide AgNPs Dielectrics KPFM C-AFM XLPE Electrodes Dielectric properties SiO2 PTFE Polymer Gamma irradiation Polyethylene Insulating polymers Space charges Permittivity Rotating machines Ageing Plasma processes BSA Polyimide Nanostructured dielectrics HVDC Polymers AFM Conductivity Electroluminescence Cumyl alcohol Current measurement Modeling Charge transport model EFM Electric field FTIR Electrical insulation Thermal aging Mechanical properties Charge trapping Optimization Thin films

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