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Determination by x-ray reflectivity and small angle x-ray scattering of the porous properties of mesoporous silica thin films

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https://hal.umontpellier.fr/hal-01999327
Contributeur : Sandrine Dourdain Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : mercredi 30 janvier 2019 - 09:39:19
Dernière modification le : jeudi 4 août 2022 - 17:31:04

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Citation

Sandrine Dourdain, Jean-François Bardeau, Maggy Colas, Bernd Smarsly, Ahmad Mehdi, et al.. Determination by x-ray reflectivity and small angle x-ray scattering of the porous properties of mesoporous silica thin films. Applied Physics Letters, 2005, 86 (11), pp.113108. ⟨10.1063/1.1887821⟩. ⟨hal-01999327⟩

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