Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering - Université de Montpellier
Article Dans Une Revue Journal de Physique IV Proceedings Année : 2002

Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering

M. Klotz
  • Fonction : Auteur
Institut Européen des membranes
N. Idrissi-Kandri
  • Fonction : Auteur
A. Ayral
  • Fonction : Auteur
Institut Européen des membranes
A. van Der Lee
Institut Européen des membranes
C. Guizard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 913447
Institut Européen des membranes

Domaines

Chimie

Philippe FALQUE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.umontpellier.fr/hal-01726390

Soumis le : jeudi 8 mars 2018-11:41:38

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

Consulter le texte intégral

Dates et versions

hal-01726390 , version 1 (08-03-2018)

Identifiants

Citer

M. Klotz, N. Idrissi-Kandri, A. Ayral, A. van Der Lee, C. Guizard. Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering. Journal de Physique IV Proceedings, 2002, 12 (6), pp.283 - 290. ⟨10.1051/jp4:20020237⟩. ⟨hal-01726390⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IEM CHIMIE UNIV-MONTPELLIER
36 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More