Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering - Université de Montpellier
Article Dans Une Revue Journal de Physique IV Proceedings Année : 2002

Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering

N. Idrissi-Kandri
  • Fonction : Auteur
A. van Der Lee
C. Guizard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 913447

Domaines

Chimie

Dates et versions

hal-01726390 , version 1 (08-03-2018)

Identifiants

Citer

M. Klotz, N. Idrissi-Kandri, A. Ayral, A. van Der Lee, C. Guizard. Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering. Journal de Physique IV Proceedings, 2002, 12 (6), pp.283 - 290. ⟨10.1051/jp4:20020237⟩. ⟨hal-01726390⟩
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