Chemistry and electronics of single layer MoS 2 domains from photoelectron spectromicroscopy using laboratory excitation sources

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Article dans une revue
Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2016, 48 (7), pp.465 - 469. 〈10.1002/sia.5992〉
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Contributeur : Philippe Falque <>
Soumis le : vendredi 12 janvier 2018 - 10:45:06
Dernière modification le : dimanche 14 janvier 2018 - 01:13:43

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Citation

M. Fregnaux, H. Kim, D. Rouchon, V. Derycke, J. Bleuse, et al.. Chemistry and electronics of single layer MoS 2 domains from photoelectron spectromicroscopy using laboratory excitation sources. Surface and Interface Analysis, Wiley-Blackwell, 2016, 48 (7), pp.465 - 469. 〈10.1002/sia.5992〉. 〈hal-01682267〉

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